ترجمه تمامی چکیده های یک کنفرانس و آنالیز مقاله های معتربر
ترجمه و آنالیز مقالات
ارایه مقاله
به همراه منابع و اسلاید
بیش از 90 صفحه ورد
1-آنالیز مقاله:بررسی طرح های BIST برای نهفته سازی الگوی آزمایش دردنباله تولید شده توسط انبار
Research Article
A Low-Cost BIST Scheme for Test Vector Embedding in Accumulator-Generated Sequences
2-آنالیز مقاله: تولید آزماینده شبه فراگیر دو الگویه با استفاده ازآکومولاتور
Accumulator-based pseudo-exhaustive two-pattern generation
3-نقش فناوری اطلاعات در تجارت الکترونیکی
4-ترجمه تمامی چکیده های یک کنفرانس:
زمانبندی که الگوریتم های ژنتیک را مورد استفاده قرار می دهد:
ما دراین مقاله در مورد زمانبندی کارهای مربوط به هم و مقایسه ی ماژولهای موازی داده و عملیات ارتباطی
5-تولیدآزماینده شبه فراگیر دو الگویه با استفاده ازآکومولاتور(APET)
مقدمه
آشنایی با BIST
ساختار آکومولاتور
شرح الگوریتم آزماینده شبه فراگیر دو الگویه با استفاده ازآکومولاتور
آزمایش فراگیر
آزمایش شبه فراگیر
آزماینده با دو الگوی آزمایش
آزماینده شبه فراگیر دو الگویه با استفاده ازآکومولاتور
مقایسه آزماینده شبه فراگیر دو الگویه با استفاده ازآکومولاتور با روش های دیگر
نتیجه گیری
منابع
چکیده
در این مقاله یک طرحٍ جدید برای تولید آزماینده شبه فراگیر با دو الگوی آزمایش برای آزمودن ماژول های پیچیده ارائه کردیم. دراین طرح از یک آکومولاتور و یک جمع کننده مکمل یک، برای تولید الگوی آزمایش، که زمان تولید آن، برابر با نظریه مینیمم مقدار است ،استفاده می‌کنیم. از آنجایی که آکومولاتور به صورت رایج در مدارات پر سرعت پردازش سیگنال VLSI (Very Large Scale Integration) وجود دارد، از این طرح برای آزمایش های شبه فراگیر مداراتی که دارای تاخیر شکست مدار یا خطای Stuck-open بهره می‌گیریم.
در مقایسه این طرح با طرح های قبلی استفاده شده از آزماینده شبه فراگیر به این نتیجه رسیدیم که آزماینده شبه فراگیر با دو الگوی آزمایش دارای سربار سخت افزاری کمتری است و همچنین به دلیل ساده تر بودن سخت افزار انباره در تولید الگوهای آزمایش با طول زیاد می‌تواند پارامتر های زمانبندی مدار را نیز کاهش دهد.
واژه های کلیدی
Built-in self test ، آزماینده دو الگویه، برنامه آزماینده با آکومولاتور، تاخیر تست شکست .
- مقدمه
تکنولوژی موجود در IC های رایج دارای پیچیدگی زیادی هستند و دسترسی به نود های داخلی دشوار است ، بنابراین استفاده از روش های سنتی برای تست مدار، گران قیمت و ناکار آمد است. تکنیک BIST برای تست مدار از روش های تست درون تراشه ای بهره میگیرد و پاسخ های بدست آمده را بررسی می‌کند، بدون اینکه از تجهیزات گران و سربار زا برای تست مدار استفاده کند، بعلاوه با استفاده از BIST منحنی سرعت تست مدار به کیفیت تحویل گرفته شده، به سرعت افزایش می‌یابد.
تولید کننده الگوی آزمایش در BIST ،برای تشخیص خطا، عموما از یک الگو یا دو الگو استفاده می‌کند، تولید کننده الگوی آزمایش یک الگویه، برای آشکارسازی خطای قطعه مورد نظر از روش های ترکیبی تشخیص خطا بهره میگیرد مانند روش هایی که برای تشخیص خطاStuck - at بکارگرفته مشود. پژوهشگران برای حل مشکلات ناشی از بکارگیری تولید کننده الگوی آزمایش یک الگویه، از رجیستر انتقالی برای اعمال فیدبک طولی [2] و یا از ماشین اتوماتای سلولی [3] و یا برای نگهداری مقادیر ریاضی از ماشین های انباشته گر استفاده میکنند[4] .
ترجمه تمامی چکیده های یک کنفرانس و آنالیز 5 مقاله معتربر
