طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF) یا (X-ray Fluorescence Spectroscopy) یا طیف‌سنجی پرتو ایکس کی از روش های آنالیز عنصری است که از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش، به ویژه به علت سرعت زیاد در شناسایی عنصری، برای برخی از صنایع، ضروری است. در این روش، پرتو ایکس به نمونه مجهول تابیده و در اثر برانگیختن اتم‌ها باعث پدید آمدن پرتو ایکس ثانویه می شود. سپس با تعیین طول موج (روش WDS) یا انرژی پرتو ایکس ثانویه (روش EDS)، عنصر یا عناصر مورد نظر را می‌توان شناسایی کرد.
اساس کار طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس
پرتو خروجی از لوله پدید آورنده پرتو ایکس به نمونه می تابد و در اثر بمباران، الکترون های موجود در مدار های داخلی اتم خارج شده و جایگزینی این الکترون ها از مدارهای بالایی، سبب پدید آمدن پرتو ایکس مشخصه خواهد شد. اساس این پدیده، مانند حالتی است که نمونه، توسط الکترون بمباران می شود.
طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس به دو نوع WDS و EDS تقسیم بندی می شود. در روش WDS پرتوی ایکس خروجی از نمونه مجهول، پیش از ورود به آشکار ساز، توسط یک بلور تفکیک می شود. در روش EDS پرتو خروجی از نمونه بدون آنکه توسط بلور آنالیز کننده تفکیک شود، وارد آشکارساز می شود. تفاوت اصلی دو روش EDS و WDS به سرعت، دقت، قدرت تفکیک این دو روش مربوط است.
فهرست مطالب:
مقدمه
قابلیت ها
مزایا
معایب
محدودیت ها
اجزای دستگاه XRF
خطاها
خطای تصادفی
خطای سیستماتیک
سیگنالها
حساسیت
کاربرد در پترولوژی
دقت
ارائه اطلاعات
اساس کار دستگاه
صحت
آماده سازی نمونه
قرص های ذوبی
قرص های تحت فشار
کالیبره کردن دستگاه
منابع
پاورپوینت کامل و جامع با عنوان دستگاه XRF (طیف سنجی فلوئورسانس پرتو ایکس) در 47 اسلاید
